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ICテストハンドラ

よみ アイシーテストハンドラ
英 IC test handler
概要 ICテストハンドラとは、IC、LSIなどパッケージした後の半導体デバイスを動作試験(性能評価、良否判定)するための搬送装置のこと。単に「ICハンドラ」「ハンドラ」と呼ぶことも多い。動作温度範囲を超えた高温・低温での試験を行う「低高温ハンドラ」もある。
ローダ(投入部)、テストサイト、アンローダ(排出部)、および温度制御系で構成し、テストサイトには対象となるICに合せて各社のテストヘッドを組込めるようになっている。搬送は、トレイtoトレイの水平搬送方式が主流である。

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【取扱製品】 半導体ウェハー容器(300mmウェハー用FOUP、 200mmウェハー用SMIF POD等)の全自動...
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