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| コンタクトプローブ | |
| spring contact prove | |
| コンタクトプローブとは、電気的な検査・試験のために、電極などの測定部位に接触させるだけで導通ができるピン状のプローブの一種。プランジャ(可動部)と、バレル(本体)、ばねで構成する。プリント基板やフラットパネルディスプレイ(LCD、有機ELなど)、半導体など、多数(数10~数100本)の導通が必要な場合に使用されることが多い。 接触するだけで電気信号などを通すので、接触抵抗や、ばね圧(強すぎるとダメージを与え、弱すぎると接触が不安定になる)、ストローク、プランジャの先端形状、サイズ(直径、長さ)などの選定が重要である。大電流用や、高周波対応の同軸タイプもある。 |